Izračunavanje gubitaka učinskih tranzistora s efektom polja za određivanje njihove strujne opteretivosti : doktorska disertacija - Šunde, Viktor; Benčić, Zvonko (Zagreb : V. Šunde ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 1999)
Ključne riječi: učinski tranzistor s efektom polja (MOSFET), mikromodel, makromodel, nadomjesna temperatura silicija, prijelazna toplinska impedancija, mjerenje temperature silicijeve pločice komponente, računanje vremenskog tijeka nadomjesne temperature silicija, računanje vremenskog tijeka gubitaka
Key words: field effect power transistor (MOSFET), micromodel, macromodel, virtul junction temperature, transient thermal impedance, temperature measurement of a junction temperature, calculation of the time course of virtual junction temperature, calculating the time course of losses
Bibliografija str. 201-206.