Slika naslovnice

Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji

Sažetak na hrvatskom: Mikroelektronika i integrirani sklopovi predstavljaju okosnicu moderne civilizacije. Osnovna komponenta svakog mikroelektroničkog sklopa je tranzistor čije je otkriće dovelo do nevjerojatnog razvoja poluvodičkih tehnologija, od svog otkrića pa sve do danas. Oscilatori koji gene...

Full description

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:50798/Similar
Glavni autor: Bertolan, Roman (-)
Ostali autori: Barić, Adrijan (Thesis advisor)
Vrsta građe: Drugo
Impresum: Zagreb, R. Bertolan, 2019.
Predmet:
CMOS > 180nm > elektronika > ispitni sklop > projektiranje čipova > projektiranje integriranih sklopova > generator takta
electornics, CMOS techology, chip design, integrated circuit design,clock generator

APA stil citiranja

Bertolan, R., & Barić, A. (2019). Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji: Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji : završni rad. Zagreb: R. Bertolan.

Chicago stil citiranja

Bertolan, Roman, and Adrijan Barić. Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji: Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji : završni rad. Zagreb: R. Bertolan, 2019.

MLA stil citiranja

Bertolan, Roman, and Adrijan Barić. Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji: Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji : završni rad. Zagreb: R. Bertolan, 2019.

Slični primjerci