Testverfahren in der mikroelektronik

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:10496/Details
Glavni autor: Daehn, Wilfried (-)
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: ger
Impresum: Berlin : Springer Verlag, 1997.
Izdanje: 1. izd
LEADER 00640nam a2200181uu 4500
008 s1997 a |||||||||| ||ger|d
035 |a HR-ZaFER 12050 
040 |a HR-ZaFER  |b hrv  |c HR-ZaFER 
041 |a ger 
080 |a 621.3.049.77  |h MEHANIČKA GRAĐA. STRUKTURA MATERIJALA I KOMPONENTI  |j MIKROELEKTRONIKA. INTEGRIRANI STRUJNI KRUGOVI  |e 621.3.049.7  |9 289 
100 1 |9 14810  |a Daehn, Wilfried 
245 |a Testverfahren in der mikroelektronik :  |b METHODEN UND WERKZEUGE. 
250 |a 1. izd. 
260 |a Berlin :  |b Springer Verlag,  |c 1997. 
300 |a XI, 219 str. :  |b graf.prikazi ;  |c 24 cm. 
942 |b BKS  |c K 
990 |a 11808 
999 |c 10496  |d 10496