Self-testing VLSI design

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:4369/Details
Glavni autori: Yarmolik, V.N (-), Kachan, I.V (Author)
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: eng
Impresum: Amsterdam : Elsevier Scientific Publishing Company, 1993.
Izdanje: 1. izd
LEADER 00633nam a2200193uu 4500
008 s1993 ne a |||||||||| ||eng|d
035 |a HR-ZaFER 5819 
040 |a HR-ZaFER  |b hrv  |c HR-ZaFER 
041 |a eng 
080 |a 681.324  |h DIGITALNI (ILI PRETEŽNO) DIGITALNI SISTEMI, STROJEVI, OPREMA  |j MREŽE RAČUNALA  |e 681.32  |9 2808 
100 1 |9 9964  |a Yarmolik, V.N. 
245 |a Self-testing VLSI design. 
250 |a 1. izd. 
260 |a Amsterdam :  |b Elsevier Scientific Publishing Company,  |c 1993. 
300 |a XI, 345 str. :  |b graf.prikazi ;  |c 24 cm. 
700 |9 9965  |a Kachan, I.V.  |4 aut 
942 |b BKS  |c K 
990 |a 5812 
999 |c 4369  |d 4369