|
|
|
|
| LEADER |
01974na a2200229 4500 |
| 003 |
HR-ZaFER |
| 008 |
160221s2019 ci ||||| m||| 00| 0 hr d |
| 035 |
|
|
|a (HR-ZaFER)ferid7240
|
| 040 |
|
|
|a HR-ZaFER
|b hrv
|c HR-ZaFER
|e ppiak
|
| 100 |
1 |
|
|a Požar, Borna
|9 40785
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Sustav za mjerenje karakteristika matrično spojenih tranzistora :
|b završni rad /
|c Borna Požar ; [mentor Tomislav Suligoj].
|
| 246 |
1 |
|
|a Measurement System for Transistors Connected in Matrix
|i Naslov na engleskom:
|
| 260 |
|
|
|a Zagreb,
|b B. Požar,
|c 2019.
|
| 300 |
|
|
|a 26 str. ;
|c 30 cm +
|e CD-ROM
|
| 502 |
|
|
|b preddiplomski studij
|c Fakultet elektrotehnike i računarstva u Zagrebu
|g smjer: Elektronika, šifra smjera: 36, datum predaje: 2019-06-14, datum završetka: 2019-07-12
|
| 520 |
3 |
|
|a Sažetak na hrvatskom: Svrha zadatka je bila osmisliti i projektirati sklop koji će moći povezati svaki tranzistor u matrici i poslati signal s kojim se ispituje njegova karakteristika. Tijekom svog rada i prijenosa signala, sustav za matrično mjerenje karakteristika tranzistora zanemarivo utječe na rezultate mjerenja. Nakon što se ispravno spoje svi uređaju, mjerenje se vrši i upravlja pomoću računala s programom LabVIEW koji prikazuje i sprema dobivene rezultate.
|
| 520 |
3 |
|
|a Sažetak na engleskom: Purpose was to design a device which will be able to connect each transistor in the matrix and send a signal for examination its characteristics. During the operation and signal transmission, the matrix measuring system of the transistor characteristics has a negligible impact on the measurement results. Once all devices are properly connected, measurement is performed and controlled by a computer with the program LabVIEW that displays and saves the results.
|
| 653 |
|
1 |
|a sklop
|a tranzistor
|a matrica
|a karakteristika
|a računalo
|a rezultati
|
| 653 |
|
1 |
|a device
|a transistor
|a matrix
|a characteristics
|a computer
|a results
|
| 700 |
1 |
|
|a Suligoj, Tomislav
|4 ths
|9 17692
|
| 942 |
|
|
|c Z
|
| 999 |
|
|
|c 51497
|d 51497
|