Swift ion beam analysis in nanosciences

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/irb.104324/Details
Glavni autori: Jalabert, Denis (Author), Vickridge, Ian, Chabli, Amal
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: eng
Impresum: London ; Hoboken, NJ : Wiley, 2017.
Nakladnička cjelina: Nanoscience and nanotechnology series
Predmet:
LEADER 00984nam a2200289 i 4500
001 104324
003 HR-ZaIRB
005 20180607171036.0
008 170518s2017 uk a f 000 0 eng
020 |a 9781848215771 
020 |a 1848215770 
040 |a DLC  |b eng  |e ppiac  |c HR-ZaIRB  |d HR-ZaIRB 
080 |a 537.5+620.3 
100 1 |a Jalabert, Denis  |4 aut 
245 1 0 |a Swift ion beam analysis in nanosciences /  |c Denis Jalabert, Ian Vickridge, Amal Chabli. 
260 |a London ;  |a Hoboken, NJ :  |b Wiley,  |c 2017. 
300 |a XVII, 258 str. :  |b ilustr. ;  |c 25 cm. 
490 0 |a Nanoscience and nanotechnology series ; 
830 1 |a Nanoscience and nanotechnology series 
504 |a Bibliografija : str. 237-255. 
504 |a Kazalo. 
653 |a ions  |a electrons  |a X-rays  |a energy loss  |a HR-ERD  |a NanoIBA  |a ion mass spectrometry  |a iono-luminiscence 
700 1 |4 aut  |a Vickridge, Ian 
700 1 |4 aut  |a Chabli, Amal  
942 |2 udc  |c BOOK 
998 |c Mihalić, Mirjana 
999 |c 26591  |d 26591