|
|
|
|
LEADER |
01426nam a2200337 i 4500 |
001 |
NSK01000303497 |
003 |
HR-ZaNSK |
008 |
020109s1987 ci a m 000 0 hrv |
035 |
|
|
|9 (HR-ZaNSK)303813
|
035 |
|
|
|9 (HR-ZaNSK)420109065
|
035 |
|
|
|a (HR-ZaNSK)000303497
|
040 |
|
|
|a HR SVKRI
|b hrv
|c HR SVKRI
|d HR-ZaNSK
|e ppiak
|
041 |
0 |
|
|a hrv
|b eng
|
044 |
|
|
|a ci
|c hr
|
080 |
|
|
|a 621.382:681.3.066](043.3)
|
100 |
1 |
|
|a Talijančić, Grgo
|
245 |
1 |
0 |
|a 2D-analiza neto koncentracije primjesa, PN-spojeva i ugrađenog električnog polja u epitaksijalno-difuzionim PN-strukturama :
|b doktorska disertacija /
|c Grgo Talijančić.
|
260 |
|
|
|a Zagreb :
|b G. Talijančić,
|c 1987.
|e ([s. l. :
|f s. n.])
|
300 |
|
|
|a 86 listova :
|b ilustr., graf. prikazi ;
|c 30 cm.
|
500 |
|
|
|a Na vrhu nasl. str.: Elektrotehnički fakultet u Zagrebu
|
500 |
|
|
|a Strojopis autogr
|
502 |
|
|
|a Elektrotehn. fak., Zagreb, 1987
|
504 |
|
|
|a Bibliografija: listovi 78-81
|
504 |
|
|
|a Summary: 2D-analysis of net concentration of impurities, PN-junctions and built-in electric field in epitaxial-diffused integrated circuit PN-structures
|
770 |
0 |
|
|t SPAPS : simulacijski program za analizu planiranih struktura
|h 142 lista : graf. prikazi
|
981 |
|
|
|p CRO
|r HRB1987
|
998 |
|
|
|f JZKA0201
|f VŠPR0201
|m vško0407
|m vhop0409
|n DCD
|
852 |
4 |
|
|j DCD-ZG-254/04
|
852 |
4 |
|
|j SVKRI
|
876 |
|
|
|e DCD
|a 254/2004
|
886 |
0 |
|
|2 unimarc
|b 01267iam0 2200289 450
|