Slika naslovnice

Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje

Sažetak na hrvatskom: Bipolarni tranzisotri imaju danas široku primjenu u području mikro i nano tehnologije te je potrebno voditi računa o promjeni njihovih performansi tokom godina. Kada se mjeri pouzdanost tranzistora, promatra se utjecaj promjene (povećanja) struje baze, te istodobno (kao posljed...

Full description

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:45161/Similar
Glavni autor: Šegmanović, Filip (-)
Ostali autori: Suligoj, Tomislav (Thesis advisor)
Vrsta građe: Drugo
Impresum: Zagreb, F. Šegmanović, 2014.
Predmet:
bipolarni tranzistor > HCBT > pouzdanost tranzistora > degradacija > stresiranje > mixed - mode stress metoda > reverse stress metoda
bipolar transistor > HCBT > reliability of transistor > degradation > stressing > mixed - mode stress method > reverse stress method

APA stil citiranja

Šegmanović, F., & Suligoj, T. (2014). Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje: Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje : završni rad. Zagreb: F. Šegmanović.

Chicago stil citiranja

Šegmanović, Filip, and Tomislav Suligoj. Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje: Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje : završni rad. Zagreb: F. Šegmanović, 2014.

MLA stil citiranja

Šegmanović, Filip, and Tomislav Suligoj. Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje: Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje : završni rad. Zagreb: F. Šegmanović, 2014.

Slični primjerci