|
|
|
|
| LEADER |
02528na a2200229 4500 |
| 003 |
HR-ZaFER |
| 008 |
160221s2016 ci ||||| m||| 00| 0 en d |
| 035 |
|
|
|a (HR-ZaFER)ferid4321
|
| 040 |
|
|
|a HR-ZaFER
|b hrv
|c HR-ZaFER
|e ppiak
|
| 100 |
1 |
|
|a Marinović, Tomislav
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Razvoj ispitnih struktura za kalibriranje širokopojasnih radiofrekvencijskih sondi :
|b diplomski rad /
|c Tomislav Marinović ; [mentor Adrijan Barić].
|
| 246 |
1 |
|
|a Development of test structures for calibration of broad bandwidth radiofrequency probes
|i Naslov na engleskom:
|
| 260 |
|
|
|a Zagreb,
|b T. Marinović,
|c 2016.
|
| 300 |
|
|
|a 78 str. ;
|c 30 cm +
|e CD-ROM
|
| 502 |
|
|
|b diplomski studij
|c Fakultet elektrotehnike i računarstva u Zagrebu
|g smjer: Radiokomunikacijske tehnologije, šifra smjera: 52, datum predaje: 2016-07-01, datum završetka: 2016-07-22
|
| 520 |
3 |
|
|a Sažetak na hrvatskom: U ovom radu razmatran je i dizajniran set kalibracijskih i testnih struktura za preciznu kalibraciju širokopojasnih radiofrekvencijskih (RF) sondi koje se koriste za mjerenja analognoga signala velike amplitude. U programskom alatu Agilent ADS provedene su simulacije na bazi teorije električnih krugova te elektromagnetske simulacije na temelju kojih je utvrđen optimalni dizajn tiskanih pločica te su odabrani prikladni tipovi prijenosnih linija i konektora. Nakon što tiskane pločice budu izrađene, odredit će se karakteristika RF sonde, što će u konačnici pridonijeti većoj točnosti i pouzdanosti mjernih rezultata.
|
| 520 |
3 |
|
|a Sažetak na engleskom: For precise calibration of the broadband radio-frequency (RF) probes used for large-amplitude analogue signal measurements, a set of calibration and test structures was proposed and designed. Circuit and EM Momentum simulations were performed in Agilent ADS for different transmission lines and connector types, based on whom an optimum design of the printed circuit boards (PCBs) was determined. After the PCBs are processed, a characteristic of the RF probe will be determined, which will ultimately lead to a tighter control of the signal performance, and more accurate signal measurements using the probe.
|
| 653 |
|
1 |
|a mikrotrakasta linija
|a koplanarna linija
|a supstrat
|a tiskana pločica
|a karakterizacija
|a model otpornika
|a SMA konektor
|a RF sonda
|a mjerni pad-ovi
|
| 653 |
|
1 |
|a microstrip line
|a coplanar waveguide
|a substrate
|a printed circuit board
|a characterization
|a resistor model
|a SMA connector
|a RF probe
|a measurement pads
|
| 700 |
1 |
|
|a Barić, Adrijan
|4 ths
|
| 942 |
|
|
|c Y
|
| 999 |
|
|
|c 49376
|d 49376
|