Testability concepts for digital ICS

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:7287
Glavni autori: Beenker, F. P. M. (-), Bennetts, R. G. (Author), Thijssen, A. P.
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: eng
Impresum: Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, 1995.
Izdanje: 1. izd
Nakladnička cjelina: Frontiers in Electronic Testing / Kluwer Academic Publishers ; VOLUME 3