Depth profiling by means of total electron yield measurements
| Permalink: | http://skupni.nsk.hr/Record/nsk.NSK01000172871 |
|---|---|
| Matična publikacija: |
Fizika A (Zagreb) 4 (1995), 2 ; str. 287-294 |
| Glavni autor: | Ebel, Horst (-) |
| Ostali autori: | Svagera, Robert (-), Kaitna, Roland |
| Vrsta građe: | Članak |
| Jezik: | eng |
| Predmet: |
Održavanje sustava u tijeku
Sustav je trenutačno nedostupan zbog održavanja.
Zapisi o posjedovanju i primjercima trenutačno nisu dostupni. Za više informacija kontaktirajte osoblje knjižnice ili pošaljite upit administratoru: