Storage degradation mechanism analysis and storage life prediction of the optoelectronic couplers based on multi-channel degradation testing data
| Permalink: | http://skupni.nsk.hr/Record/nsk.NSK01000951804 |
|---|---|
| Matična publikacija: |
Engineering review (Technical Faculty University of Rijeka) 34 (2014), 3 ; str. 209-216 |
| Glavni autor: | Wan, Bo (-) |
| Ostali autori: | Fu, Guicui (-), Pei, Chun, Dong, Yibing |
| Vrsta građe: | Članak |
| Jezik: | eng |
| Predmet: | |
| Online pristup: |
Elektronička verzija članka |
Održavanje sustava u tijeku
Sustav je trenutačno nedostupan zbog održavanja.
Zapisi o posjedovanju i primjercima trenutačno nisu dostupni. Za više informacija kontaktirajte osoblje knjižnice ili pošaljite upit administratoru: