Testing semiconductor memories
| Permalink: | http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:27447 |
|---|---|
| Glavni autor: | Van de Goor, A. J. (-) |
| Vrsta građe: | Knjiga |
| Jezik: | eng |
| Impresum: |
London :
John Wiley & Sons, Inc,
1991.
|
| Izdanje: | 1. izd |