Modeliranje i optimizacija vertikalnog potpuno osiromašenog MOSFET-a u tehnologiji silicija ni na čemu

Kapacitivno-naponske karakteristike VFD SONFET strukture modelirane su u svim područjima rada - akumulaciji, osiromašenju i inverziji. Kompaktni i 2D modeli kritičnih parametara VFD SONFET strukture u području ispod napona praga su razvijeni. Provjera ispravnosti analitičkih modela provedena je uspo...

Full description

Permalink: http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:31580
Glavni autor: Sviličić, Boris (-)
Ostali autori: Biljanović, Petar (Thesis advisor)
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: hrv
Impresum: Zagreb : B. Sviličić ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2008.