On the applicability of different methods of XRD line profiles analysis in estimating grain size and microstrain in tungstein thin films
| Permalink: | http://skupni.nsk.hr/Record/nsk.NSK01000654989 |
|---|---|
| Matična publikacija: |
Fizika A (Zagreb) 15 (2006), 1/4 ; str. 35-50 |
| Glavni autor: | Djerdj, Igor (-) |
| Ostali autori: | Tonejc, Anđelka (-), Tonejc, Antun, Radić, Nikola, fizičar |
| Vrsta građe: | Članak |
| Jezik: | eng |
| Predmet: | |
| Online pristup: |
Digitalna verzija članka |