Izračunavanje gubitaka učinskih tranzistora s efektom polja za određivanje njihove strujne opteretivosti
Ključne riječi: učinski tranzistor s efektom polja (MOSFET), mikromodel, makromodel, nadomjesna temperatura silicija, prijelazna toplinska impedancija, mjerenje temperature silicijeve pločice komponente, računanje vremenskog tijeka nadomjesne temperature silicija, računanje vremenskog tijeka gubitak...
| Permalink: | http://skupni.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:14814 |
|---|---|
| Glavni autor: | Šunde, Viktor (-) |
| Ostali autori: | Benčić, Zvonko (Thesis advisor) |
| Vrsta građe: | Knjiga |
| Jezik: | hrv |
| Impresum: |
Zagreb :
V. Šunde ; Fakultet elektrotehnike i računarstva,
1999.
|