|
|
|
|
LEADER |
01516nam a2200229uu 4500 |
005 |
20190506132516.0 |
008 |
s1999 ci a |||||||||| ||hrv|d |
035 |
|
|
|a HR-ZaFER 16430
|
040 |
|
|
|a HR-ZaFER
|b hrv
|c HR-ZaFER
|e ppiak
|
041 |
|
|
|a hrv
|
080 |
|
|
|a 621.3.038
|h SPECIJALNE PODJELE ZA POSEBNA PODRUČJA ELEKTROTEHNIKE
|j SPECIJALNE KARAKTERISTIKE I DIJELOVI ELEKTRONIČKE OPREME
|e 621.3.03
|9 234
|
100 |
1 |
|
|9 9362
|a Šunde, Viktor
|
245 |
|
|
|a Izračunavanje gubitaka učinskih tranzistora s efektom polja za određivanje njihove strujne opteretivosti :
|b doktorska disertacija /
|c Viktor Šunde ; [mentor Zvonko Benčić]
|
260 |
|
|
|a Zagreb :
|b V. Šunde ; Fakultet elektrotehnike i računarstva,
|c 1999.
|
300 |
|
|
|a XII, 208 str. :
|b ilustr. ;
|c 30 cm.
|
504 |
|
|
|a Bibliografija str. 201-206.
|
520 |
|
|
|a Ključne riječi: učinski tranzistor s efektom polja (MOSFET), mikromodel, makromodel, nadomjesna temperatura silicija, prijelazna toplinska impedancija, mjerenje temperature silicijeve pločice komponente, računanje vremenskog tijeka nadomjesne temperature silicija, računanje vremenskog tijeka gubitaka
|
520 |
|
|
|a Key words: field effect power transistor (MOSFET), micromodel, macromodel, virtul junction temperature, transient thermal impedance, temperature measurement of a junction temperature, calculation of the time course of virtual junction temperature, calculating the time course of losses
|
700 |
|
|
|4 ths
|9 5648
|a Benčić, Zvonko
|
942 |
|
|
|c D
|2 udc
|
990 |
|
|
|a 15925
|
999 |
|
|
|c 14814
|d 14814
|